비정상 전원 전압을 이용한 RSA 암호 시스템의 실험적 오류 주입 공격

Vol. 19, No. 5, pp. 195-200, 10월. 2009
10.13089/JKIISC.2009.19.5.195, Full Text:
Keywords: Fault injection attack, CRT-RSA, Source voltage blocking, Voltage glitch, Microcontroller
Abstract

CRT-RSA 알고리즘이 스마트카드나 마이크로컨트롤러 등의 암호 장치에 구현된 경우 레이저 주입, 전자파 방사, 이온 빔 주사, 전압 글리치 주입 등의 오류 주입 기술 등에 의해 CRT-RSA 알고리즘의 비밀 소인수 p, q가 쉽게 노출 될 수 있다. 그 중 전압 글리치 오류는 대상 암호 장치에 어떠한 조작이나 변형 없이 적용 가능하여 보다 실제적이다. 본 논문에서는 비정상 전원 전압을 이용한 오류 주입 공격을 실험하였다. 실험 결과 기존에 알려진 고전압 글리치를 주입하는 방법 외에도 전원 전압을 일정 시간동안 단절함으로써 CRT-RSA의 비밀 소인수 p, q를 알아낼 수 있었다.

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Cite this article
[IEEE Style]
J. Park, S. Moon and J. Ha, "An Experimental Fault Injection Attack on RSA Cryptosystem using Abnormal Source Voltage," Journal of The Korea Institute of Information Security and Cryptology, vol. 19, no. 5, pp. 195-200, 2009. DOI: 10.13089/JKIISC.2009.19.5.195.

[ACM Style]
Jea-Hoon Park, Sang-Jae Moon, and Jae-Cheol Ha. 2009. An Experimental Fault Injection Attack on RSA Cryptosystem using Abnormal Source Voltage. Journal of The Korea Institute of Information Security and Cryptology, 19, 5, (2009), 195-200. DOI: 10.13089/JKIISC.2009.19.5.195.