CRT-RSA 암호시스템에 대한 광학적 오류 주입 공격의 실험적 연구

Vol. 19, No. 3, pp. 51-60, 6월. 2009
10.13089/JKIISC.2009.19.3.51, Full Text:
Keywords: CRT-RSA, Fault Analysis Attack, Optical Fault Injection, Side-Channel Attack
Abstract

중국인의 나머지 정리(Chinese Remainder Theorem, CRT)를 이용하는 RSA 암호시스템을 암호 칩에 구현 할 경우, 암호 칩에서 동작하는 과정 중에 한 번의 오류 주입으로 모듈러스 N의 비밀 소인수 p, q값이 노출될 수 있다. 본 논문에서는 상용 마이크로컨트롤러에 CRT-RSA 암호 시스템을 구현한 후, 레이저 빔과 플래시를 이용한 광학적 오류 주입 방법으로 공격을 시도하고 실험 결과를 분석하였다. 레이저 빔과 플래시를 이용한 오류 주입 공격 실험 결과, 일부 상용 마이크로 컨트롤러는 광학적 오류 주입 공격에 대해 취약한 특성으로 인해 CRT-RSA암호 시스템에 소인수 분해 공격이 적용됨을 확인하였다.

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Cite this article
[IEEE Style]
J. Park, S. Moon and J. Ha, "Experimental Analysis of Optical Fault Injection Attack for CRT-RSA Cryptosystem," Journal of The Korea Institute of Information Security and Cryptology, vol. 19, no. 3, pp. 51-60, 2009. DOI: 10.13089/JKIISC.2009.19.3.51.

[ACM Style]
Jea-Hoon Park, Sang-Jae Moon, and Jae-Cheol Ha. 2009. Experimental Analysis of Optical Fault Injection Attack for CRT-RSA Cryptosystem. Journal of The Korea Institute of Information Security and Cryptology, 19, 3, (2009), 51-60. DOI: 10.13089/JKIISC.2009.19.3.51.